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半导体设备

Ceres 900是一款具有32个通用插槽的一体化测试系统,通过优化设计全面提升了设备的测试速度和测试重复性,可用于电力管理和混合信号芯片等产品的测试。与同行相比,Ceres 900测试速度更快,单元测试效率提升至少2倍以上。

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1、芯片测试效率提升3-10倍,降低设备需求量、减少设备购买支出、占地面积和能源消耗

2、低时延、高带宽,多站点通讯总线

3、测试头配备可调速的空气冷却系统

4、自文档化的软件环境

5、简单快速的多站点程序开发

6、双PC结构,运行速度更快,用户程序无需重新标定和升级

732个通用模块插槽,便于灵活配置和扩充

8、负载板标定和器件测试均配置高精度TMU6.5位的DMM

9、配置板可更换

10、简易和低成本的校准

11、现场即时系统诊断,无需拆装模块


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